<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<article xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xsi:noNamespaceSchemaLocation="JATS-archive-oasis-article1-4.xsd" article-type="research-article" dtd-version="1.4" xml:lang="ru">
  <front>
    <journal-meta>
      <journal-title-group>
        <journal-title>Журнал Научное обозрение. Технические науки</journal-title>
      </journal-title-group>
      <issn>2500-0799</issn>
      <publisher>
        <publisher-name>Общество с ограниченной ответственностью &amp;quot;Издательский Дом &amp;quot;Академия Естествознания&amp;quot;</publisher-name>
      </publisher>
    </journal-meta>
    <article-meta>
      <article-id pub-id-type="doi">10.17513/srts.1201</article-id>
      <article-id pub-id-type="publisher-id">ART-1201</article-id>
      <title-group>
        <article-title>ЗАВИСИМОСТЬ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ ДИФРАГИРОВАННОГО СВЕТА ОТ СТРУКТУРЫ ПОЛЯ В ОТВЕРСТИИ ПЛОСКОГО ЭКРАНА</article-title>
      </title-group>
      <contrib-group>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Глущенко</surname>
              <given-names>А.Г.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Glushchenko</surname>
              <given-names>A.G.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>gag646@yandex.ru</email>
          <xref ref-type="aff" rid="afff7bf172a"/>
        </contrib>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Глущенко</surname>
              <given-names>Е.П.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Glushchenko</surname>
              <given-names>E.P.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>gag646@yandex.ru</email>
          <xref ref-type="aff" rid="afff7bf172a"/>
        </contrib>
        <contrib contrib-type="author">
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="ru">
              <surname>Фирсова</surname>
              <given-names>А.А.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <name-alternatives>
            <name xml:lang="en">
              <surname>Firsova</surname>
              <given-names>A.A.</given-names>
            </name>
          </name-alternatives>
          <email>gag646@yandex.ru</email>
          <xref ref-type="aff" rid="afff7bf172a"/>
        </contrib>
      </contrib-group>
      <aff id="afff7bf172a">
        <institution xml:lang="ru">ФГБОУ ВО «Поволжский государственный университет телекоммуникаций и информатики»</institution>
        <institution xml:lang="en">Povolzhskiy State University of Telecommunications and Informatics</institution>
      </aff>
      <pub-date date-type="pub" iso-8601-date="2018-06-01">
        <day>01</day>
        <month>06</month>
        <year>2018</year>
      </pub-date>
      <issue>6</issue>
      <fpage>11</fpage>
      <lpage>15</lpage>
      <permissions>
        <license xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/">
          <license-p>This is an open-access article distributed under the terms of the CC BY 4.0 license.</license-p>
        </license>
      </permissions>
      <self-uri content-type="url" hreflang="ru">https://science-engineering.ru/ru/article/view?id=1201</self-uri>
      <abstract xml:lang="ru" lang-variant="original" lang-source="author">
        <p>Рассматривается дифракция электромагнитных волн на одиночной щели в плоском тонком экране. Показано влияние неоднородности распределения интенсивности падающего излучения в плоскости щели на дифракционную картину. Исследованы два типа неоднородности и получены аналитические решения для расчета распределения интенсивности дифрагированного поля для квадратичной функции и гармонической функции. Полученные соотношения в предельном случае однородного поля в плоскости щели соответствуют известным результатам теории дифракции. Показана зависимость дифракционной картины от характера и степени неоднородности излучения в плоскости отверстия в экране. Для случая неоднородности поля, описываемой квадратичной функцией распределения неоднородности поля по плоскости щели неоднородность не влияет на положение дифракционных минимумов и проявляется в изменении уровня дифракционных максимумов. Рассмотрена зависимость дифракционной картины от величины неоднородности. Неоднородность, описываемая гармонической функцией, при малой степени неоднородности проявляется в величине дифракционных максимумов. При высокой степени неоднородности приводит к качественному искажению дифракционной картины, формированию максимумов высокого порядка с интенсивностью максимумов большей, чем у интенсивности максимумов малого порядка. Установлена область применимости модели однородного распределения поля по поперечному сечению падающего на экран излучения.</p>
      </abstract>
      <abstract xml:lang="en" lang-variant="translation" lang-source="translator">
        <p>The diffraction of electromagnetic waves on a single slit in a flat thin screen is considered. The effect of the inhomogeneity of the incident radiation intensity distribution in the slit plane on the diffraction pattern is considered. Two types of inhomogeneity are considered and analytical solutions for the calculation of the diffracted field intensity distribution for the quadratic function and the harmonic function are obtained. The obtained relations in the limiting case of a homogeneous field in the slit plane correspond to the known results of the diffraction theory. The dependence of the diffraction pattern on the nature and degree of inhomogeneity of radiation in the plane of the hole in the screen is shown. For the case of the field inhomogeneity described by the quadratic distribution function of the field inhomogeneity in the slit plane, the inhomogeneity does not affect the position of the diffraction minima and is manifested in the change in the level of the diffraction maxima. The dependence of the diffraction pattern on the inhomogeneity is considered. The inhomogeneity described by the harmonic function, with a small degree of inhomogeneity, is manifested in the value of the diffraction maxima. At a high degree of inhomogeneity leads to a qualitative distortion of the diffraction pattern, the formation of high-order maxima with a maximum intensity greater than that of low-order maxima. The area of applicability of the model of uniform field distribution over the cross-section of the radiation incident on the screen is established.</p>
      </abstract>
      <kwd-group xml:lang="ru">
        <kwd>дифракция</kwd>
        <kwd>электромагнитные волны</kwd>
        <kwd>неоднородность поля</kwd>
        <kwd>экран</kwd>
        <kwd>щель</kwd>
        <kwd>дифракционные максимумы</kwd>
        <kwd>смещение дифракционной картины</kwd>
      </kwd-group>
      <kwd-group xml:lang="en">
        <kwd>diffraction</kwd>
        <kwd>electromagnetic waves</kwd>
        <kwd>field heterogeneity</kwd>
        <kwd>screen</kwd>
        <kwd>slit</kwd>
        <kwd>diffraction maxima</kwd>
        <kwd>the diffraction pattern shift</kwd>
      </kwd-group>
    </article-meta>
  </front>
  <back>
    <ref-list>
      <ref>
        <note>
          <p>1. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1973. 720 с.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>2. Дифракционная нанофотоника / Под ред. В.А. Сойфера. М.: Физматлит, 2011. 680 с.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>3. Савельев И.В. Курс физики. Т. 2. Электричество и магнетизм. Волны. Оптика. СПб.: Лань, 2008. 480 с.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>4. Emmnauel I. Ugwu, Stephen D. Songden, Y.Y. Jabil. Attenuation of Electromagnetic Wave Propagating Through Roofing Sheet: Aluminum, Zinc and Asbestos. American Journal of Electromagnetics and Applications. 2017. Vol. 5. No. 1. Р. 7–13. DOI: 10.11648/j.ajea.20170501.12.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>5. Налимов А.Г., Котляр В.В. Острая фокусировка света планарной градиентной микролинзой // Компьютерная оптика. 2016. Т. 40. № 2. С. 135–140. DOI: 10.18287/2412-6179-2016-40-2-135-140.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>6. Головастиков Н.В., Быков Д.А., Досколович Л.Л., Сойфер В.А. Дифракционные решётки для дифференцирования оптических импульсов в пропускании и отражении // Компьютерная оптика. 2013. № 37 (2). С. 138–145.</p>
        </note>
      </ref>
      <ref>
        <note>
          <p>7. Глущенко А.Г., Глущенко Е.П. Влияние движения среды на интерференционную картину, формируемую двумя когерентными источниками // Научный вестник 2015. № 3 (5). С. 108–112. DOI: 10.17117/nv.2015.03.108.</p>
        </note>
      </ref>
    </ref-list>
  </back>
</article>
