Scientific journal
Scientific Review. Technical science

ISSN 2500-0799

ПИ №ФС77-57440

Issue №3 in 2026

no name
ANTIFROD SYSTEM: DEVELOPMENT OF A SOFTWARE COMPLEX TO PREVENT FRAUDULENT TRANSACTIONS Dubrovskiy A. A., Maleshina L. M.	5-12
INFLUENCE OF PROCESS-NODE GENERATIONS ON THE DEGRADATION RATES OF COMPLEX SILICON INTEGRATED CIRCUITS Belkin E. N.	13-19

Мы используем файлы cookies для улучшения работы сайта. Оставаясь на нашем сайте, вы соглашаетесь с условиями использования файлов cookies. Чтобы ознакомиться с нашей Политикой использования файлов cookie, нажмите здесь.